CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
产品特色：
■CE 认证合格
■可侦测导磁、非导磁材料
■资料储存支援 255 笔
■可设定 Hi/Lo 警报蜂鸣的读值范围
■选择平均值、最大值、最小值及最大值-最小值
■常用厚度量测点可使用快速一点校正
■两点校正正常操作
■背光显示
■使用者可选择 μm/mils
■自动关机功能
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
一般规格：
显示：31/2 位数字液晶显示，最大 1999 读值。
电池电压不足显示：当电池电压低於操作电压时，
" "显示。
操作环境：0°C至40°C，相对湿度<90%R.H.。
避免有强度磁场的环境。
储存环境：-20°C至60°C，0 至 80%R.H. (电池移除后)。
精确度测试环境：23°C±5°C，相对湿度<75%R.H.。
自动关机：15 秒。
尺寸：148mm(高)x105mm(宽)x42mm(厚)。
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
技术资料：
范围：0 至 40.0mils (0 至 1000μm)
解析度：0.1mils/1μm
回应时间：1 秒
精确度：
±(4位)在0至7.8mils
±(10 位)在 0 至 199μm
±(3%+4 位)在 7.9mils 至 40mils
±(3%+10 位)在 200μm 至 1000μm
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