Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪技术参数：
  
热参数
  温度范围：
  -10°至 350°C
  
探测器类型：
  128 x 96 热敏元件焦平面阵列 (FPA) 非制冷微量热型探测器
  
准确度：
  ±2% 或 ±2ºC（取大者）
  
准确度（-10 至 0 C）：
  +/- 3ºC
  
重复性：
  ±1% 或 ±1ºC（取大者）
  
NETD：
  200 mK
  
温度显示分辨率：
  0.1 ºC
  

  
光学/红外
  光谱范围：
  7.5-14 微米
  
目标瞄准：
  单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）
  
光学分辨率：
  75:1
  
测量圆点最小直径：
  8.1 mm（距离为 61cm 时）
  
图像帧速：
  9 Hz
  
视场 (FOV)：
  20º 水平 x 15º 垂直
  
瞬时视场 (IFOV)：
  2.8 mrad
  

  
控制
  焦点：
  可聚焦，61 cm 至无穷远
  
温标：
  可选择 ºC
  
调色板：
  可选择灰色、反灰色、铁红或彩虹
  
测量模式：
  可选择自动或手动
  
激光开/关：
  随附
  
增益控制：
  随附
  
级别控制：
  随附
  
LCD 背光：
  可选择亮或暗
  

  
操作
  可调辐射系数：
  0.10 至 1.00，步长 0.01
  
液晶显示：
  TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm
  
反射背景温度：
  -50 至 905ºC
  
操作环境温度：
  -10 至 50ºC
  
相对湿度：
  10 至 90% 不结露
  
存放温度：
  -25 至 70ºC [不带电池]
  
存储能力：
  50 张图像
  
激光开启图标：
  随附
  
电池电量不足图标：
  随附
  
测量模式图标：
  随附
  
热分析软件：
  InsideIR（随附）
  
PC 软件操作系统：
  Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®
  

  
电气
  电源：
  充电电池组（随附）
  
电池寿命：
  至少连续使用 3 小时
  
数据传输：
  USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒
  
存储设备：
  快速存储器
  

  
其它
  三脚架（6.35 mm (1/4) 20 统一标准螺纹）
  
  
重量（包括电池）：
  1.2 kg
  
保修：
  1 年
  
产地：
  美国
  
撞击防护：
  半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f
  
振动防护：
  
  
- 随机
  6G
  
EMC：
  EN 61326-1
  

Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪标准配置:

Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪主机一台

InsideIR 软件（无限使用，无需另行付费）